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  COSMOS-2X
螢光X線膜厚儀
適用對象：IC導線架、封裝業
　　　　　PCB業、精密零件業
　　　　　電鍍業、電子業
單層膜厚測定(測量精度1.5~4%)依測試秒數而定.    
2層膜厚測定. (測量精度3~9%)依測試秒數而定.
合金膜厚成份比同時測定.  
化學鎳膜厚測定.  
壓鑄鋅底材上鍍銅、鎳二層膜厚同時測定.
元素的光譜峰值測定分析
Maker:日本電測

     
住址：71149 台南市歸仁區民生六街25號
TEL：886-6-3303189　FAX：886-6-3387185
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　　　　   東莞：86-769-83392752
　　　　 　　　  86-769-87312117
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